Резка SiC и сложных полупроводников


Высокоточные системы резки алмазной нитью для нарезки подложек

Слитки SiC, подложки из сложных полупроводников и материалы с широкой запрещенной зоной подвергаются значительным механическим нагрузкам и термическому воздействию в процессе высокоскоростного резания. Для обеспечения превосходного качества поверхности, минимального повреждения подповерхностных слоёв и предотвращения сколов или микротрещин, приводящих к выходу устройств из строя, производителям полупроводников требуются высокостабильные процессы резки и точное управление технологическим процессом. Только так можно добиться надёжного производства высококачественных пластин с высоким выходом.

Обработка SiC и сложных полупроводников сопряжена с чрезвычайно высокими затратами на материалы и производство. Около 30% от общей стоимости изготовления подложек приходится не на сырье, а на неэффективную резку, потери материала и низкий выход готовой продукции. Поэтому выбор подходящих систем резки алмазной нитью для конкретных задач может значительно снизить производственные затраты и повысить эффективность.

Высокоточные алмазные проволочные пилы используются для нарезки твёрдых и хрупких слитков на тонкие пластины с обеспечением стабильного натяжения и контроля подачи. Их рабочие параметры оптимизированы для обеспечения стабильного технологического диапазона с постоянным натяжением проволоки, низким уровнем вибрации и узкой шириной пропила.

Обработка SiC и составных полупроводников

Система резки алмазной нитью для SiC и сложных полупроводников от ewirexon

Новые системы резки алмазной нитью для SiC и сложных полупроводников от компании ewirexon специально разработаны для высокоточного нарезки слитков SiC и подложек с широкой запрещенной зоной, где требуются сверхвысокий выход пластин и минимальные повреждения поверхности. Новая серия SiC обеспечивает значительно более высокий выход материала по сравнению с продуктами конкурентов в данной области применения. Использование наших систем резки позволяет снизить производственные затраты на полупроводниковых заводах. Еще одним положительным эффектом является сокращение отходов материала и повреждений поверхности.

  • Возможная экономия производственных затрат за счет повышения выхода материала на режущих системах на типичных линиях по обработке SiC
  • Оптимальное использование ресурсов
  • Значительная экономия затрат на материалы в процессе производства за счет минимальных потерь на пропил и повреждений под поверхностью
  • Гибкая и компактная конструкция оборудования, обеспечиваемая модульной структурой и небольшой занимаемой площадью
  • Более простое обслуживание при монтаже и техническом обслуживании благодаря удобному управлению и удаленному мониторингу
  • Снижение затрат на техническое обслуживание за счет увеличения срока службы алмазной проволоки и компонентов оборудования
  • Экономичные системные решения «под ключ» благодаря индивидуально настроенным параметрам технологического процесса и полной системной интеграции
  • Обработка SiC и составных полупроводников
  • Производство пластин для силовых полупроводников
  • Нарезка слитков и обработка подложек
  • Резка материалов с широкой запрещенной зоной
  • Научно-исследовательские лаборатории и пилотные производственные линии
  • Современные производственные мощности по изготовлению упаковки
НЕТ.ПараметрТехнические характеристики
1МодельTCQF400LNC-FM-HL
2Принцип резкиБесконечная алмазная леска / Механическая резка
3Функции резкиНарезка / Резка под углом и по профилю
4Максимальный размер заготовки (мм)Φ600 мм, высота 500 мм
5Размер рабочего стола (мм)Поворотный стол Ø380
6Точность плоскостности реза (мм)0.08
7Шероховатость поверхности (мкм)Ra 0,8 мкм
8Характеристики проволоки (мм)Ø0,65–1,0/2580
9Система натяженияКонтроль постоянного натяжения проволоки
10Количество направляющих колес4 колеса
11Приводной двигательСервомотор
12Скорость движения проволоки (м/с)51Max (регулируемый)
13Общая мощность (кВт)2.8
14Напряжение220 В, 50 Гц
15Система управленияСпециально разработанная система Tongcheng T32
16Габаритные размеры (Д × Ш × В) (мм)1350×1066×1968
17Брутто-вес, кг720
2

Пример из практики: обработка SiC и сложных полупроводников

Данное практическое исследование демонстрирует, как оптимальный выбор систем резки алмазной нитью от ewirexon может способствовать повышению выхода пластин при обработке SiC и сложных полупроводников на 15% и, таким образом, устойчивому снижению производственных затрат на предприятиях по выпуску силовых полупроводников. Кроме того, решение ewirexon для резки SiC обеспечивает минимальное повреждение поверхности, сокращение отходов материала и более высокую производительность по сравнению с традиционными методами резки.

Хотите узнать больше о наших проектах? Не стесняйтесь, пишите нам!

Напишите нам!

Загрузите свои 2D-чертежи и как минимум один 3D-файл CAD, чтобы получить расчет стоимости быстрее и точнее. Если у вас несколько файлов, скомпрессируйте их в архив формата .zip или .rar. Предпочитаете электронную почту? Отправьте запрос на расчет стоимости по адресу info@xxx.com.

Новости и обновления

Factory acceptance test of a diamond wire saw with samples, instruments and data

Приемочные испытания алмазных кабельных пил на заводе: практическое руководство по FAT

Разработать план проведения измеримого приемочного испытания алмазной проволочной пилы на заводе, охватывающий вопросы безопасности, технических характеристик, пластин, расходных материалов, данных, обучения и передачи результатов приемочного испытания (SAT).

Узнать больше »
Microscope inspection of a wire-sawn wafer cross-section beside a diamond wire saw

Повреждения подповерхностных слоев при резке алмазной проволочной пилой: расчет запаса на чистовую обработку

Составьте смету с учетом повреждений под резаной поверхностью и припусков на чистовую обработку для резки алмазной проволочной пилой таких материалов, как SiC, кремний, сапфир, стекло и керамика.

Узнать больше »
Diamond wire saw cutting a supported stack of advanced ceramic plates

Передовая технология резки керамических блоков: как организация партий повышает производительность

Определите, в каких случаях пакетная или многослойная резка высокотехнологичной керамики позволяет повысить производительность без ущерба для качества стружки, толщины, охлаждения или отслеживаемости.

Узнать больше »
Ultra-fine diamond multi-wire saw slicing a silicon ingot into thin wafers

Нарезка тонких кремниевых пластин: реальные компромиссы при использовании ультратонкой алмазной нити

Провести оценку ультратонкой алмазной нити для нарезки тонких кремниевых пластин с учетом таких показателей, как ширина пропила, изгиб, обрыв, коробление, потери при финишной обработке и себестоимость одной пригодной пластины.

Узнать больше »
Technician checking diamond wire saw guide alignment with a dial indicator

Профилактическое обслуживание алмазных кабельных пил: выравнивание, качество и время безотказной работы

Разработайте практичный план профилактического обслуживания алмазной проволочной пилы с учетом состояния направляющих колес, натяжения, выравнивания, системы охлаждения и стабильного качества пластин.

Узнать больше »
Diamond wire saw cutting graphite blocks and rings for SiC crystal-growth equipment

Резка графита для выращивания кристаллов SiC: выход, пыль и чистота

Узнайте, как резка алмазной проволочной пилой может повысить выход графитовых деталей для выращивания кристаллов SiC, обеспечивая при этом контроль за уровнем запыленности, геометрией и загрязнением.

Узнать больше »